AS2000-L顆粒硬度測試儀簡介

AS2000-L顆粒硬度測試儀簡介

快速測量：相比傳統(tǒng)的型號， AS2000-L從開始測量到完成所需的總時(shí)間已經(jīng)減少至大約半，約10-15秒/piece（具體取決于測量條件）

可同時(shí)測量炭黑類顆粒的硬度和尺寸

高度：通過使用Z軸制動(dòng)器提高了測量度

不同形式的數(shù)據(jù)管理：可儲(chǔ)存數(shù)據(jù)格式為CSV的顆粒尺寸分布圖和單個(gè)負(fù)載曲線數(shù)據(jù)

安裝置：外殼裝好后才可啟動(dòng)

測量條件：設(shè)備應(yīng)用于ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測量，且能單觸鍵撥號

技術(shù)參數(shù)

尺寸：250x550x440mm

重量：約20kg

**壓力：200CN

壓縮速度：默認(rèn)：0.125mm/sec（可通過設(shè)置改變）

顆粒尺寸：0.5mm至2.0mm

輸出：USB型-B（用于數(shù)據(jù)傳輸至PC端）

電源：AC100V±5%（正常使用50/60HZ）

支持的操作系統(tǒng)：windows7~Windows10

用于測量球狀顆粒：如炭黑

產(chǎn)品特點(diǎn)

快速測量：相比傳統(tǒng)的型號， AS2000-L從開始測量到完成所需的總時(shí)間已經(jīng)減少至大約一半，約10-15秒/piece（具體取決于測量條件）

可同時(shí)測量炭黑類顆粒的硬度和尺寸

高精度：通過使用Z軸制動(dòng)器提高了測量精度

不同形式的數(shù)據(jù)管理：可儲(chǔ)存數(shù)據(jù)格式為CSV的顆粒尺寸分布圖和單個(gè)負(fù)載曲線數(shù)據(jù)

安全裝置：外殼裝好后才可啟動(dòng)

測量條件：設(shè)備應(yīng)用于ASTM標(biāo)準(zhǔn)的測量，且能單觸鍵撥號

產(chǎn)品規(guī)格

尺寸：250x550x440mm

重量：約20kg

最大壓力：200CN

壓縮速度：默認(rèn)：0.125mm/sec（可通過設(shè)置改變）

顆粒尺寸：0.5mm至2.0mm

輸出：USB型-B（用于數(shù)據(jù)傳輸至PC端）

電源：AC100V±5%（正常使用50/60HZ）

支持的操作系統(tǒng)：windows7~Windows10

使用領(lǐng)域

用于測量球狀顆粒：如炭黑